CX-117A晶振測試儀是我公司針對晶體生產(chǎn)廠家的特點(diǎn)專門開發(fā)的一款新機(jī)器，它繼承了以前頻率計(jì)的所有優(yōu)點(diǎn)，又新增了一些實(shí)用的測量功能，使廠家使用時(shí)更方便，更高效，適用于晶體生產(chǎn)廠家的生產(chǎn)線調(diào)頻，成品測試、分檔；晶體用戶的進(jìn)貨檢驗(yàn)和篩選等。另外，用戶可以提出自己的特殊測量要求，我們能充分滿足您的需求。 其主要特點(diǎn)如下：·具有快速測頻功能。帶調(diào)速電位器，測量速度能連續(xù)調(diào)節(jié)，可以適應(yīng)不同工人的要求。 ·具有PPM測量功能，中心頻率可任意設(shè)置，開機(jī)自動設(shè)置中心頻率為表晶頻率32768Hz。 ·具有分檔測量功能，一次測量，可自動分成多檔，每檔間隔以PPM值直接設(shè)置，特別適合于成品分選。 ·具有上下限測量功能，上限頻率、下限頻率可任意設(shè)置，測量完畢可自動判別，如超限，則聲、光報(bào)警。 ·雙窗口顯示，前面窗口顯示被測晶體的頻率值，后面窗口顯示PPM值或分檔的檔位值，或比較后的結(jié)果。 主要技術(shù)指標(biāo)： 1．頻率測量：1Hz～26MHz(100MHz) 2．PPM測量：－9999～＋9999ppm 3．分檔測量：以中心頻率為基準(zhǔn)，一次測量可上下自動分成18檔，每檔間隔可以用PPM值直接設(shè)置。 4．上、下限測量：可以設(shè)定下限頻率和上限頻率，測量完畢后，前面窗口顯示被測頻率值，后面窗口顯示比較結(jié)果，Hi表示高出上限頻率，Lo表示低于下限頻率，PAS表示被測頻率值介于上限頻率與下限頻率之間。 5．晶體穩(wěn)定度：常溫下優(yōu)于 1×10－6／日。 6．外形尺寸：230×240×90（mm） 歡迎各晶體生產(chǎn)廠商垂詢、選購。

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